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Quantitative phase-contrast microscopy by a lateral shear approach to digital holographic image reconstruction

  Articoli su Riviste JCR/ISI  (anno 2006)

Autori:  Ferraro P., Alfieri D., De Nicola S., De Petrocellis L., Finizio A., Pierattini G

Affiliazione Autori:  CNR - Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy; CNR - Istituto di Cibernetica \"E. Caianiello\", Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy

Riassunto:  Combining the concept of lateral shear interferometry (LST) within a digital holography microscope, we demonstrate that it is possible to obtain quantitative optical phase measurement in microscopy by a new single-image-processing procedure. Numerical lateral shear of the reconstructed wavefront in the image plane makes it possible to retrieve the derivative of the wavefront and remove the defocus aberration term introduced by the microscope objective. The method is tested to investigate a silicon structure and a mouse cell line. (c) 2006 Optical Society of America

Rivista/Giornale:  OPTICS LETTERS
Volume n.:  31(10)      Pagine da: 1405  a: 1407
Ulteriori informazioni:  Il metodo è stato brevettato:“Metodo di olografia digitale a contrasto di fase quantitativo per la ricostruzione numerica di immagini, e relativo apparato” Inventori: Pietro Ferraro, Domenico Alfieri, Sergio De Nicola, Andrea Finizio, Giovanni PierattiniAssegnatario: Consiglio Nazionale delle Ricerche. Riferimento CNR 1748. Domanda n. RM2006A000226, del 21.04.2006
DOI: 10.1364/OL.31.001405

*Impact Factor della Rivista: (2006) 3.598   *Citazioni: 106
data tratti da "WEB OF SCIENCE" (marchio registrato di Thomson Reuters) ed aggiornati a:  12/05/2019

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