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High resolution x-ray characterization of sub-micron periodic domain structures in lithium niobate crystals

  Articoli su Riviste JCR/ISI  (anno 2007)

Autori:  Bazzan M., Argiolas N., Sada C., Mazzoldi P., Grilli S., Ferraro P., De Natale P., Sansone L

Affiliazione Autori:  Physics Deot. "G. Galilei", University of Padova, Via Marzolo 8, 35131 Padova, Italy; CNR - Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy

Riassunto:  The High Resolution X-Ray Diffraction technique in the reciprocal space mapping mode is exploited to study sub-micron periodic domain structures in lithium niobate crystals. Periodic satellite structure were detected around the reciprocal lattice points which carry information on the domain period and shape and also on the presence of lattice deformations. Moreover a pronounced diffuse scattering peak was observed, indicating the presence of a random displacement field possibly associated to the presence of randomly distributed structural defect.

Rivista/Giornale:  
Volume n.:  352      Pagine da: 25  a: 34
DOI: 10.1080/00150190701354893

*Impact Factor della Rivista: (2007) 0.427   *Citazioni: 5
data tratti da "WEB OF SCIENCE" (marchio registrato di Thomson Reuters) ed aggiornati a:  19/05/2019

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