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Iterative algorithm for three flat test

  Articoli su Riviste JCR/ISI  (anno 2007)

Autori:  Vannoni M., Molesini G

Affiliazione Autori:  CNR - Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Riassunto:  Absolute planarity measurements by interferometry are classically made using three flats, compared two by two in the course of four or more tests. Data reduction is performed with various analytical methods. Here we present instead a data processing algorithm that converges to solution numerically by iteration. Examples are presented both on synthetic interferograms and on experimental data. High accuracy and versatility of the approach are demonstrated. (C) 2006 Optical Society of America.

Rivista/Giornale:  OPTICS EXPRESS
Volume n.:  15 (11)      Pagine da: 6809  a: 6816
DOI: 10.1364/OE.15.006809

*Impact Factor della Rivista: (2007) 3.709   *Citazioni: 36
data tratti da "WEB OF SCIENCE" (marchio registrato di Thomson Reuters) ed aggiornati a:  19/05/2019

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