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On the origin of internal field in Lithium Niobate crystals directly observed by digital holography

  Articoli su Riviste JCR/ISI  (anno 2005)

Autori:  Paturzo M., Ferraro P., Grilli S., Alfieri D., De Natale P., de Angelis M., Finizio A., De Nicola S., Pierattini G., Caccavale F., Callejo D., Morbiato A

Affiliazione Autori:  Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Sez. di Napoli, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy; Istituto di Cibernetica "E. Caianiello" del CNR, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy; SAES Getters S.p.A., Viale Italia 77, 20020 Lainate, Milano, Italy

Riassunto:  We show the defect dependence of the internal field in Lithium Niobate using a full-field interferometric method and demonstrate that it can be directly measured on some clusters of defects embedded in a stoichiometric matrix. Results show that the value of the internal field grows in proximity of defects and vanishes far from them, which addresses the long-standing issue about its origin in Lithium Niobate crystal. (C) 2005 Optical Society of America.

Rivista/Giornale:  OPTICS EXPRESS
Volume n.:  13 (14)      Pagine da: 5416  a: 5423
DOI: 10.1364/OPEX.13.005416

*Impact Factor della Rivista: (2005) 3.764   *Citazioni: 28
data tratti da "WEB OF SCIENCE" (marchio registrato di Thomson Reuters) ed aggiornati a:  19/05/2019

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