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Profile measurement of a one-dimensional phase boundary sample using a single shot phase-step method

  Articoli su Riviste JCR/ISI  (anno 2005)

Autori:  de Angelis M., De Nicola S., Ferraro P., Finizio A., Grilli S., Pierattini G

Affiliazione Autori:  Istituto di Cibernetica "E. Caianiello" del CNR, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy; Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Sez. di Napoli, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy

Riassunto:  Phase shifting interferometry is a preferred technique for high-resolution phase profile measurement, but the difficulty in generating the requested shifted pattern has limited the use of the technique to low-noise environment and in case accurate calibration of the phase shifting device is available. In the present experiment, a sample having one-dimensional straight phase boundary is mounted in one arm of an interferometer. One single image of the fringe pattern is recorded, a simple image process is applied generating phase shifted patterns from the original image. Using the appropriate phase shift algorithms, a phase map of the sample is obtained which gives a quantitative measurement of the topographical structure with the resolution of the phase shift method but a single shot recorded pattern. (c) 2005 Elsevier Ltd. All rights reserved.

Rivista/Giornale:  Optics and lasers in engineering
Volume n.:  43 (12)      Pagine da: 1305  a: 1314
DOI: 10.1016/j.optlaseng.2005.01.003

*Impact Factor della Rivista: (2005) 0.847   *Citazioni: 7
data tratti da "WEB OF SCIENCE" (marchio registrato di Thomson Reuters) ed aggiornati a:  14/07/2019

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