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Absolute planarity with three-flat test: an iterative approach with Zernike polynomials

  Articoli su Riviste JCR/ISI  (anno 2008)

Autori:  Vannoni M., Molesini G

Affiliazione Autori:  CNR - Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Riassunto:  An iterative algorithm to analyze three-flat test data for absolute planarity measurements is presented. Using the properties of Zernike polynomial representations, results are achieved in a fast and effective manner. Details and demonstrative examples are provided. (c) 2008 Optical Society of America.

Rivista/Giornale:  OPTICS EXPRESS
Volume n.:  16 (1)      Pagine da: 340  a: 354
DOI: 10.1364/OE.16.000340

*Impact Factor della Rivista: (2008) 3.880   *Citazioni: 25
data tratti da "WEB OF SCIENCE" (marchio registrato di Thomson Reuters) ed aggiornati a:  26/05/2019

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