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Refractive index of Lithosil and Suprasil 312 at cryogenic temperature

  Articoli su Riviste JCR/ISI  (anno 2010)

Autori:  Vannoni M., Olivieri M., Mondello G., Sordini A., Molesini G

Affiliazione Autori:  CNR-Istituto Nazionale di Ottica, Firenze; Galileo Avionica, Campi Bisenzio

Riassunto:  Measurements of the refractive index of two different Lithosil samples and a sample of Suprasil 312 at cryogenic temperature and at 293 K are reported for the spectral range from 480 nm to 894 nm. Such data are useful for the design of fused silica optical components and systems destined for space missions.

Rivista/Giornale:  METROLOGIA
Volume n.:  47 (3)      Pagine da: 175  a: 178
DOI: 10.1088/0026-1394/47/3/008

*Impact Factor della Rivista: (2010) 1.688   *Citazioni: 1
data tratti da "WEB OF SCIENCE" (marchio registrato di Thomson Reuters) ed aggiornati a:  26/05/2019

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