INO
CNR
vai_a_storia   vai_a_organizzazione   vai_a_sedi   vai_a_personale   Area Riservata
    English English Version  
 
 

Calibration of absolute planarity flats: generalized iterative approach

  Articoli su Riviste JCR/ISI  (anno 2012)

Autori:  Vannoni M., Sordini A., Molesini G

Affiliazione Autori:  CNR — Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, Firenze 50125, Italy

Riassunto:  Absolute planarity measurement with interferometric data and iterative surface recovering approaches is briefly reviewed. Extension to the case of multiple measurements is outlined, and demonstration with synthetic data is provided. A generalized approach is finally presented, making use of operators representing the manipulations occurred with the surfaces taking part in the generation of the interferograms. The potential advantages of the new interferogram processing technique are pointed out. (C) 2012 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE).

Rivista/Giornale:  OPTICAL ENGINEERING
Volume n.:  51 (8)      Pagine da: 081510  a: 081510
DOI: 10.1117/1.OE.51.8.081510

*Impact Factor della Rivista: (2012) 0.880   *Citazioni: 14
data tratti da "WEB OF SCIENCE" (marchio registrato di Thomson Reuters) ed aggiornati a:  21/07/2019

Riferimenti visionabili in IsiWeb of Knowledge: (solo per sottoscrittori)
Per visualizzare la scheda dell'articolo su IsiWeb: Clicca qui
Per visualizzare la scheda delle Citazioni dell'articolo su IsiWeb: Clicca qui

INO © Istituto Nazionale di Ottica - Largo Fermi 6, 50125 Firenze | Tel. 05523081 Fax 0552337755 - P.IVA 02118311006     P.E.C.    Info