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Terahertz Frequency Metrology for Spectroscopic Applications: a Review

  Articoli su Riviste JCR/ISI  (anno 2017)

Autori:  Consolino L., Bartalini S., De Natale P

Affiliazione Autori:  CNR-Istituto Nazionale di Ottica Largo E Fermi 6, I-50125 Florence, Italy

Riassunto:  We provide an overview on terahertz (THz) frequency metrology, starting from the nowadays available continuous wave THz sources, discussing their main features such as tunability, spectral purity, and frequency referencing to the primary frequency standards. A comparison on the achieved results in high-precision molecular spectroscopy is given and discussed, and finally, a special emphasis poses on the future developments of this upcoming field.

Rivista/Giornale:  JOURNAL OF INFRARED MILLIMETER AND TERAHERTZ WAVES
Volume n.:  38 (11)      Pagine da: 1289  a: 1315
Ulteriori informazioni:  
DOI: 10.1007/s10762-017-0406-x

*Impact Factor della Rivista: (2017) 1.677   *Citazioni: 7
data tratti da "WEB OF SCIENCE" (marchio registrato di Thomson Reuters) ed aggiornati a:  19/05/2019

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